| 仪器名称 | LVDS测试系统 | 仪器型号 | 非标 |
| 仪器编号 | 16-110100-02751 | 仪器来源 | 技改 |
| 生产厂商 | 安捷伦 | 启用日期 | 2016-11-30 |
| 仪器类别 | 电子 | 仪器原值 | 2428103.42 元 |
| 所在部门单位 | 系统室-电子室 | ||
| 仪器负责人 | 武磊 | 联系电话 | 010-61611550 |
| 地址 | 怀柔园区A座 | 邮编 | 101400 |
| wulei@pstruckctr.com | |||
| 主要技术指标 | 具有 14 位垂直分辨率，高 1.2 GS/s，4 个模拟和 32 个数字通道输出，是各种混合信号生成的理想解决方案。AWG5014C任意波形发生器应用高分辨率无线通信和国防电子教育和科研,ADC/DAC测试混合信号设计和测试生成真实世界信号、理想信号或失真信号 – 包括所有毛刺、异常事件和损伤大规模测试系统的系统同步和定时控制业内最YOU秀的混合信号发生解决方案，迎接当今复杂的测量挑战。 | ||
| 包含主要附件 | |||
| 仪器主要功能 | LVDS的传输系统由FPGA加上LVDS的Serdes芯片组成，LVDS 的Serializer芯片把FPGA的多路并行数据通过时分复用的方法变成较少路数、较高速率的串行LVDS 信号进行传输，接收端的de-Serializer芯片再把接收到的串行LVDS信号解成多路并行数据。其好处在于FPGA通过外挂的LVDS芯片可以方便可靠地以高速率把内部数据传输出去，如NS、TI等公司大量提供这种LVDS的Serdes芯片。对于LVDS系统的测试，主要涉及以下几个方面:
1/FPGA内部逻辑和并行接口测试，用于保证数据处理和控制的正确性; 2/高速串行LVDS信号质量测试，用于保证LVDS信号的正确传输; 3/高速互连电缆和PCB的阻抗测试，用于保证传输链路的信号完整性; 4/系统误码率测试，用于验证系统实际传输的误码率; |
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| 仪器服务领域 | 航空航天 | ||
| 计量认证资质 | 实验室认可 | ||
| 仪器现状 | 完好 | ||
| 收费标准 | 362 元/小时 | ||
| 仪器图片 |
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